Klitzke, J. (1986). MIKROELEKTRONIK INFORMATION, APPLIKATION. HEFT 37. QUALITÄTSSICHERUNG-ZUVERLÄSSIGKEIT. Halbleiterwerk.
Chicago-Zitierstil (17. Ausg.)Klitzke, Joachim. MIKROELEKTRONIK INFORMATION, APPLIKATION. HEFT 37. QUALITÄTSSICHERUNG-ZUVERLÄSSIGKEIT. Frankfurt am Oder: Halbleiterwerk, 1986.
MLA-Zitierstil (9. Ausg.)Klitzke, Joachim. MIKROELEKTRONIK INFORMATION, APPLIKATION. HEFT 37. QUALITÄTSSICHERUNG-ZUVERLÄSSIGKEIT. Halbleiterwerk, 1986.
Achtung: Diese Zitate sind unter Umständen nicht zu 100% korrekt.