Modeling nanoscale imaging in electron microscopy /

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Bibliographische Detailangaben
Weitere Verfasser: Vogt, Thomas (HerausgeberIn), Dahmen, Wolfgang (HerausgeberIn), Binev, Peter (HerausgeberIn)
Format: Buch
Sprache:Englisch
Veröffentlicht: New York, NY : Springer, 2012
Schriftenreihe:Nanostructure science and technology
Schlagworte:
ISBN:9781461421900
ISSN:1571-5744
Online-Zugang: Volltext
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