Atomic force microscopy in nanobiology /
Uložené v:
| Ďalší autori: | Takeyasu, Kunio 1950- (Editor) |
|---|---|
| Médium: | Kniha |
| Jazyk: | English |
| Vydavateľské údaje: |
Singapore :
Pan Stanford Publishing,
2014
|
| Predmet: | |
| ISBN: | 9789814411585 |
| On-line prístup: |
|
| Tagy: |
Pridať tag
Žiadne tagy, Buďte prvý, kto otaguje tento záznam!
|
Podobné jednotky
Načíta sa…
Cellular and biomolecular recognition : synthetic and non-biological molecules /
Autor: Niu, Zhongwei
Vydavateľské údaje: (2009)
Autor: Niu, Zhongwei
Vydavateľské údaje: (2009)
Načíta sa…
Atomic force microscopy in process engineering : introduction to AFM for improved processes and products /
Autor: Bowen, W. Richard, a ďalší
Vydavateľské údaje: (2009)
Autor: Bowen, W. Richard, a ďalší
Vydavateľské údaje: (2009)
Načíta sa…
Electron microscopy : 5. international congress for electron microscopy, held in Philadelphia, Pennsylvania, August 29. to September 5. 1962.
Vydavateľské údaje: (1962)
Vydavateľské údaje: (1962)
Načíta sa…
Techniques for electron microscopy /
Vydavateľské údaje: (1965)
Vydavateľské údaje: (1965)
Načíta sa…
Electron microscopy : 5. international congress for electron microscopy, held in Philadelphia, Pennsylvania, August 29. to September 5. 1962.
Vydavateľské údaje: (1962)
Vydavateľské údaje: (1962)
Načíta sa…
Electron microscopy and microanalysis of metals /
Vydavateľské údaje: (1968)
Vydavateľské údaje: (1968)
Načíta sa…
Atomic Force Microscopy in Molecular and Cell Biology
Vydavateľské údaje: (2018)
Vydavateľské údaje: (2018)
Načíta sa…
Inorganic experiments /
Autor: Woollins, J. Derek
Vydavateľské údaje: (1994)
Autor: Woollins, J. Derek
Vydavateľské údaje: (1994)
Načíta sa…
Applied polymer light microscopy /
Autor: Hemsley, Derek A.
Vydavateľské údaje: (1989)
Autor: Hemsley, Derek A.
Vydavateľské údaje: (1989)
Načíta sa…
Modeling nanoscale imaging in electron microscopy /
Vydavateľské údaje: (2012)
Vydavateľské údaje: (2012)
Načíta sa…
Microscopy of semiconducting materials : programme and abstracts, SMM IX, Oxford, 20 - 23 March 1995 /
Autor: Ishida, Koichi
Vydavateľské údaje: (1995)
Autor: Ishida, Koichi
Vydavateľské údaje: (1995)
Načíta sa…
In-situ electron microscopy : applications in physics, chemistry and material science /
Vydavateľské údaje: (2012)
Vydavateľské údaje: (2012)
Načíta sa…
Introduction to nanoscience /
Autor: Lindsay, S. M.
Vydavateľské údaje: (2010)
Autor: Lindsay, S. M.
Vydavateľské údaje: (2010)
Načíta sa…
Semiclassical descriptions of atomic and nuclear collisions : Proceedings of the Niels Bohr centennial conf., Copenhagen, March 25 - 28, 1985 /
Autor: Fröman, Nanny
Vydavateľské údaje: (1985)
Autor: Fröman, Nanny
Vydavateľské údaje: (1985)
Načíta sa…
Scanning probe microscopies : proceedings, Los Angeles, California, 20 - 22 January 1992 /
Autor: Manne, Srinivas
Vydavateľské údaje: (1992)
Autor: Manne, Srinivas
Vydavateľské údaje: (1992)
Načíta sa…
Nanoscale characterisation of ferroelectric materials. Scanning porobe microscopy approach /
Autor: Kalinin, Sergei V.
Vydavateľské údaje: (2004)
Autor: Kalinin, Sergei V.
Vydavateľské údaje: (2004)
Načíta sa…
Investigations of Cellular and Molecular Biophysical Properties by Atomic Force Microscopy Nanorobotics
Autor: Li, Mi
Vydavateľské údaje: (2018)
Autor: Li, Mi
Vydavateľské údaje: (2018)
Načíta sa…
Microscopic techniques in biotechnology /
Autor: Hoppert, Michael
Vydavateľské údaje: (2003)
Autor: Hoppert, Michael
Vydavateľské údaje: (2003)
Načíta sa…
Erzeugung und elektronische Struktur von endohedral dotierten Fullerenen /
Autor: Klingerer, Rainer
Vydavateľské údaje: (2001)
Autor: Klingerer, Rainer
Vydavateľské údaje: (2001)
Načíta sa…
In-situ electron microscopy at high resolution /
Autor: Banhart, Florian
Vydavateľské údaje: (2008)
Autor: Banhart, Florian
Vydavateľské údaje: (2008)
Načíta sa…
Kelvin Probe Force Microscopy From Single Charge Detection to Device Characterization /
Vydavateľské údaje: (2018)
Vydavateľské údaje: (2018)
Načíta sa…
Avtoionnaja mikroskopija /
Vydavateľské údaje: (1971)
Vydavateľské údaje: (1971)
Načíta sa…
Elektrónová mikroskopia ocelí /
Autor: Hrivňák, Ivan 1931-
Vydavateľské údaje: (1986)
Autor: Hrivňák, Ivan 1931-
Vydavateľské údaje: (1986)
Načíta sa…
Metody elektronové mikroskopie /
Autor: Bartl, P., a ďalší
Vydavateľské údaje: (1964)
Autor: Bartl, P., a ďalší
Vydavateľské údaje: (1964)
Načíta sa…
Metodika elektronnoj mikroskopii /
Autor: Schimmel, G.
Vydavateľské údaje: (1972)
Autor: Schimmel, G.
Vydavateľské údaje: (1972)
Načíta sa…
Metoda rozdělování sil a momentů se zkrácenou iterací /
Autor: Dašek, Václav
Vydavateľské údaje: (1966)
Autor: Dašek, Václav
Vydavateľské údaje: (1966)
Načíta sa…
Statistika : geometrie sil a prutové soustavy staticky určité /
Autor: Neumann, František
Vydavateľské údaje: (1972)
Autor: Neumann, František
Vydavateľské údaje: (1972)
Načíta sa…
Základy stavebnej mechaniky /
Autor: Tóthová, Dagmar
Vydavateľské údaje: (2002)
Autor: Tóthová, Dagmar
Vydavateľské údaje: (2002)
Načíta sa…
Proceedings of the 12th European congress on electron microscopy. Vol. III. Instrumentation and Methodology : EUREM, Czech Republic, 9th - 14th July 2000 /
Autor: Tománek, Pavel
Vydavateľské údaje: (2000)
Autor: Tománek, Pavel
Vydavateľské údaje: (2000)
Načíta sa…
Holographic visions : a history of new science /
Autor: Johnston, Sean F.
Vydavateľské údaje: (2006)
Autor: Johnston, Sean F.
Vydavateľské údaje: (2006)
Načíta sa…
Optical nearfield investigations of nano-plasmonic structures, devices, and materials : Habilitationsschrift /
Autor: Vogelgesang, Ralf
Vydavateľské údaje: (2012)
Autor: Vogelgesang, Ralf
Vydavateľské údaje: (2012)
Načíta sa…
Electron microscopic investigation of the two-fase region in Mg3Cd / P. Pirttilä, K. Hanhi, P. Paalassalo, J. Mäki
Autor: Pirttilä, P., a ďalší
Vydavateľské údaje: (1974)
Autor: Pirttilä, P., a ďalší
Vydavateľské údaje: (1974)
Načíta sa…
Svetelná mikroskopia v parazitológii /
Autor: Hanzelová, Vladimíra 1951-, a ďalší
Vydavateľské údaje: (2014)
Autor: Hanzelová, Vladimíra 1951-, a ďalší
Vydavateľské údaje: (2014)
Načíta sa…
Metody analýzy a kontroly materiálů /
Autor: Fiedler, Rudolf
Vydavateľské údaje: (1986)
Autor: Fiedler, Rudolf
Vydavateľské údaje: (1986)
Načíta sa…
Petrografické tabulky : příručka petrografické mikroskopie s atlasem struktur a textur /
Autor: Dudek, Arnošt, a ďalší
Vydavateľské údaje: (1962)
Autor: Dudek, Arnošt, a ďalší
Vydavateľské údaje: (1962)
Načíta sa…
Induzierte Domänenbewegung in magnetischen Tunnelkontakten mit sinusförmiger Kleinfeldmodulation /
Autor: Schmitz, Rolf
Vydavateľské údaje: (2001)
Autor: Schmitz, Rolf
Vydavateľské údaje: (2001)
Načíta sa…
Nanotechnologii v elektronike /
Autor: Borgardt, N. I.
Vydavateľské údaje: (2005)
Autor: Borgardt, N. I.
Vydavateľské údaje: (2005)
Načíta sa…
Vědeckotechnická politika kapitalistických zemí na počátku osmdesátých let /
Autor: Bedrunka, Jaroslav, a ďalší
Vydavateľské údaje: (1985)
Autor: Bedrunka, Jaroslav, a ďalší
Vydavateľské údaje: (1985)
Načíta sa…
Teoretická mechanika. Zbierka úloh a návody na cvičenia /
Autor: Müller, Juraj
Vydavateľské údaje: (2001)
Autor: Müller, Juraj
Vydavateľské údaje: (2001)
Načíta sa…
Tlakové a teplotné režimy v hydraulickom systéme traktora /
Autor: Petranský, Ivan
Vydavateľské údaje: (2002)
Autor: Petranský, Ivan
Vydavateľské údaje: (2002)
Podobné jednotky
-
Cellular and biomolecular recognition : synthetic and non-biological molecules /
Autor: Niu, Zhongwei
Vydavateľské údaje: (2009) -
Atomic force microscopy in process engineering : introduction to AFM for improved processes and products /
Autor: Bowen, W. Richard, a ďalší
Vydavateľské údaje: (2009) -
Electron microscopy : 5. international congress for electron microscopy, held in Philadelphia, Pennsylvania, August 29. to September 5. 1962.
Vydavateľské údaje: (1962) -
Techniques for electron microscopy /
Vydavateľské údaje: (1965) -
Electron microscopy : 5. international congress for electron microscopy, held in Philadelphia, Pennsylvania, August 29. to September 5. 1962.
Vydavateľské údaje: (1962)

