Spectroscopic Ellipsometry for Photovoltaics Volume 1: Fundamental Principles and Solar Cell Characterization /
This book provides a basic understanding of spectroscopic ellipsometry, with a focus on characterization methods of a broad range of solar cell materials/devices, from traditional solar cell materials (Si, CuInGaSe2, and CdTe) to more advanced emerging materials (Cu2ZnSnSe4, organics, and hybrid per...
Uloženo v:
| Médium: | Elektronický zdroj E-kniha |
|---|---|
| Jazyk: | angličtina |
| Vydáno: |
Cham :
Springer International Publishing,
2018.
|
| Vydání: | 1st ed. 2018. |
| Edice: | Springer Series in Optical Sciences,
212 |
| Témata: | |
| ISBN: | 9783319753775 |
| ISSN: | 0342-4111 ; |
| On-line přístup: |
|
| Tagy: |
Přidat tag
Žádné tagy, Buďte první, kdo vytvoří štítek k tomuto záznamu!
|
Buďte první, kdo okomentuje tento záznam!

