Spectroscopic Ellipsometry for Photovoltaics Volume 2: Applications and Optical Data of Solar Cell Materials /

Spectroscopic ellipsometry has been applied to a wide variety of material and device characterizations in solar cell research fields. In particular, device performance analyses using exact optical constants of component layers and direct analyses of complex solar cell structures are unique features...

Celý popis

Uloženo v:
Podrobná bibliografie
Médium: Elektronický zdroj E-kniha
Jazyk:angličtina
Vydáno: Cham : Springer International Publishing, 2018.
Vydání:1st ed. 2018.
Edice:Springer Series in Optical Sciences, 214
Témata:
ISBN:9783319951386
ISSN:0342-4111 ;
On-line přístup: Získat plný text
Tagy: Přidat tag
Žádné tagy, Buďte první, kdo vytvoří štítek k tomuto záznamu!