ALWAYS. A SYSTEM FOR WAFER YIELD ANALYSIS. Report and user's manual /

Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: Pineda De Gyvez, J.
Format: Buch
Sprache:Englisch
Veröffentlicht: Eindhoven : University of Technology, 1988
Schriftenreihe:EUT report 88-E-189
Online-Zugang: Volltext
Tags: Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!

MARC

LEADER 00000nam a2200000 4500
003 SK-BrCVT
005 20220617122532.0
008 890101s1988 ne e ||||||eng d
035 |a CVTIDW0875769 
040 |b slo  |a CVTI SR 
041 0 |a eng 
044 |a ne 
080 |a 621.382:681.3.06  |2 UDC-MRF 
100 1 |a Pineda De Gyvez, J. 
242 1 0 |a POUŽÍVATEĽSKÁ PRÍRUČKA SYSTÉMU ALWAYS. ANALYZÁTOR ČÍPOVÝCH PLÁTKOV 
245 1 0 |a ALWAYS. A SYSTEM FOR WAFER YIELD ANALYSIS. Report and user's manual /  |c J. Pineda De Gyvez 
260 |a Eindhoven :  |b University of Technology,  |c 1988 
300 |a 4, 24 S. :  |b grafy, lit., obr. ; 
490 0 |a EUT report 88-E-189 
692 |a Pc Sm KM 
760 1 |t EUT report 88-E-189 
910 |b A500735 
974 |f Knihy 
992 |a AIM 
999 |c 23832  |d 23832