VLSI TESTING /

Uloženo v:
Podrobná bibliografie
Hlavní autor: Abraham, Jacob A.
Další autoři: Williams, T. W. (Editor)
Médium: Kniha
Jazyk:angličtina
Vydáno: Amsterdam : North-Holland Publishing, 1988
Edice:ADVANCES IN CAD FOR VLSI VOL. 5
On-line přístup: Získat plný text
Tagy: Přidat tag
Žádné tagy, Buďte první, kdo vytvoří štítek k tomuto záznamu!

MARC

LEADER 00000nam a2200000 4500
003 SK-BrCVT
005 20220617122104.0
008 890101s1988 ne e ||||||eng d
035 |a CVTIDW0874746 
040 |b slo  |a CVTI SR 
041 0 |a eng 
044 |a ne 
080 |a 681.327.17  |2 UDC-MRF 
100 1 |a Abraham, Jacob A. 
242 1 0 |a Skúšanie VLSI 
245 1 0 |a VLSI TESTING /  |c Authors: Jacob A. Abraham and Co. ; Red.: T. W. Williams 
260 |a Amsterdam :  |b North-Holland Publishing,  |c 1988 
300 |a 9, 275 S. :  |b fotogr., grafy, lit., obr. ; 
490 0 |a ADVANCES IN CAD FOR VLSI  |v VOL. 5 
692 |a Pc Sm PO 
700 1 |a Williams, T. W.  |4 edt 
760 1 |t ADVANCES IN CAD FOR VLSI  |g VOL. 5 
910 |b A509686 
974 |f Knihy 
992 |a AMG 
999 |c 22924  |d 22924