VLSI TESTING /

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Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: Abraham, Jacob A.
Weitere Verfasser: Williams, T. W. (HerausgeberIn)
Format: Buch
Sprache:Englisch
Veröffentlicht: Amsterdam : North-Holland Publishing, 1988
Schriftenreihe:ADVANCES IN CAD FOR VLSI VOL. 5
Online-Zugang: Volltext
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Beschreibung
Beschreibung:9, 275 S. : fotogr., grafy, lit., obr. ;