QR kód

A GAS SCINTILLATION PROPORTIONAL DETECTOR FOR X-RAYS /

Uloženo v:

Podrobná bibliografie
Hlavní autor:	Okx, Willen Jan Cornelis
Médium:	Kniha
Jazyk:	angličtina
Vydáno:	Delft : Technická univerzita, 1988
On-line přístup:
Tagy:	Přidat tag Žádné tagy, Buďte první, kdo vytvoří štítek k tomuto záznamu!

Podobné jednotky

The theory and practice of scintillation counting /
Autor: Birks, J. B.
Vydáno: (1964)

Correction for X- and Gama-Ray coincidence effects in the efficiency calibration of an n-type Germanium detector /
Autor: Xilei, Lin
Vydáno: (1991)

Proportionality in Law An Analytical Perspective /
Vydáno: (2018)

X-ray Nanochemistry Concepts and Development /
Autor: Guo, Ting
Vydáno: (2018)

X-ray optics : applications to solids /
Autor: Authier, André
Vydáno: (1977)

QUICK - SET, proportioning.
Vydáno: (2008)

An introduction to X-Ray crystallography /
Autor: Woolfson, M. M.
Vydáno: (1970)

X-ray physics and equipment /
Autor: Jaundrell-Thompson, F., a další
Vydáno: (1970)

X-ray diffraction by polymers /
Autor: Kakudo, Masao 1918-2005, a další
Vydáno: (1972)

X-Ray spectrochemical analysis /
Autor: Birks, L. S.
Vydáno: (1969)

Advances in X - ray analysis.
Vydáno: (1977)

X-ray diffraction topography /
Autor: Tanner, V. K.
Vydáno: (1976)

X-Ray Lasers 2016 Proceedings of the 15th International Conference on X-Ray Lasers /
Vydáno: (2018)

Gamma-ray spectroscopy. With particular reference to detector and computer evaluation techniques /
Autor: Quittner, P.
Vydáno: (1972)

ON PENNING MIXTURES IN PROPORTIONAL COUNTERS /
Autor: Järvinen, Marja-Leena
Vydáno: (1984)

STATISTICAL METHODS FOR RATES AND PROPORTION /
Autor: Fleiss, Joseph L.
Vydáno: (1981)

Flexibility and proportionality in corporate governance /
Vydáno: (2018)

X-RAY ENERGY DISPERSIVE DIFFRACTION /
Autor: Buras, Bronislaw
Vydáno: (1988)

OPTICAL SYSTEMS FOR SOFT X RAYS /
Autor: Michette, Alan G.
Vydáno: (1986)

X-RAY SPECTRA AND CHEMICAL BINDING /
Autor: Meisel, Armin
Vydáno: (1989)

Introduction to X-Ray spectrometric analysis /
Autor: Bertin, Eugene P.
Vydáno: (1978)

Multiple diffraction of X-rays in crystals /
Autor: Chang, Shih-Lin
Vydáno: (1984)

Advances in X-ray tomography for geomaterials /
Autor: Desrues, Jacques, a další
Vydáno: (2006)

Small angle X-ray scattering /
Autor: Kratky, O.
Vydáno: (1982)

X-ray diffraction by polycrystalline materials /
Autor: Guinebretiere, René
Vydáno: (2007)

Industrial X-Ray Computed Tomography
Vydáno: (2018)

X-ray microanalysis in the electron microscope /
Autor: Chandler, John A.
Vydáno: (1977)

Structure determination by X - ray crystallography /
Autor: Ladd, F. C., a další
Vydáno: (1977)

Borrowing Justification for Proportionality On the Influence of the Principles Theory in Brazil /
Autor: Andrade Neto, João
Vydáno: (2018)

Semiconductor detectors /
Vydáno: (1968)

X-Ray Contrast Media OVERVIEW, USE AND PHARMACEUTICAL ASPECTS /
Autor: Speck, Ulrich
Vydáno: (2018)

Infrared detectors /
Autor: Putley, E. H.
Vydáno: (1975)

Balteau NDT X-Ray Solutions : products catalouge
Vydáno: (2011)

High-efficiency 4" x 4" face-type NaI(T1) double crystal scintillation gamma ray spectrometer for use in absolute counting applications and precision measurements /
Autor: Vänskä, Risto, 1949-, a další
Vydáno: (1978)

Energy dispersive X-ray fluorescence analysis /
Autor: Dziunikowski, Bohdan
Vydáno: (1989)

SOLVING SURFACE STRUCTURES WITH X-RAY DIFRACTION /
Autor: Feidenhans'l, Robert
Vydáno: (1986)

Development of capillary optics for X-ray focusing /
Autor: Engström, Per
Vydáno: (1991)

Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis
Autor: Goldstein, Joseph I.
Vydáno: (2018)

X-Ray Diffraction Imaging of Biological Cells
Autor: Nakasako, Masayoshi
Vydáno: (2018)

Parametric X-ray radiation in crystals : theory, experiments and applications /
Autor: Baryshevsky, Vladimir G., a další
Vydáno: (2005)