QR kód

Surface analysis '83 /

Uložené v:

Podrobná bibliografia
Korporativný autor:	Dom techniky ČSVTS - Československá vedeckotechnická spoločnosť (Bratislava, Československo) (Pôvodca)
Médium:	Kniha
Jazyk:	Czech English Russian
Vydavateľské údaje:	Bratislava : Dom techniky ČSVTS, 1983
Vydanie:	1. vyd.
Predmet:	mikroelektronika > elektrónová mikroskopia > integrovaný obvod zborníky
On-line prístup:
Tagy:	Pridať tag Žiadne tagy, Buďte prvý, kto otaguje tento záznam!

Podobné jednotky

A novel design and verification framework for low vertical link density 3D network-on-chip based many core embedded systems /
Autor: Ying, Haoyuan M. Sc. 1986-
Vydavateľské údaje: (2015)

Great lakes symposium on VLSI : GLSVLSI'16 ; proceedings of the 2016 ACM symposium, Boston, Massachusetts, USA, May 18-20, 2016 /
Vydavateľské údaje: (2016)

International symposium on physical design : ISPD'16 ; proceedings of the 2016 ACM international symposium, Santa Rosa, CA, USA, April 3-6, 2016 /
Vydavateľské údaje: (2016)

Návrh polozákaznických integrovaných ovbodů na hradlových polích CMOS.
Vydavateľské údaje: (1988)

Mikroelektronika '86 /
Autor: Slovík, Alojz
Vydavateľské údaje: (1986)

Integrované obvody a ich aplikácie : seminár sa koná z príležitosti osláv 65. výročia VOSR ; zborník prednášok /
Vydavateľské údaje: (1982)

Electron microscopy : 5. international congress for electron microscopy, held in Philadelphia, Pennsylvania, August 29. to September 5. 1962.
Vydavateľské údaje: (1962)

Metody elektronové mikroskopie /
Autor: Bartl, P., a ďalší
Vydavateľské údaje: (1964)

Metodika elektronnoj mikroskopii /
Autor: Schimmel, G.
Vydavateľské údaje: (1972)

O metodách projektování zařízení s integrovanými obvody : Pardubice, 5. - 6. 10. 1990 /
Autor: Říha, Pavel 1982-
Vydavateľské údaje: (1990)

Surface analysis methods in materials science /
Autor: O'Connor, D. John
Vydavateľské údaje: (1992)

Surface modification of metals by ion beams 6. Vol. 2 : Proceedings of the 6th internat. conf., Riva del Garda, Italy, Sept. 12 - 16, 1988 /
Autor: Guzman, L.
Vydavateľské údaje: (1989)

Electron microscopy : 5. international congress for electron microscopy, held in Philadelphia, Pennsylvania, August 29. to September 5. 1962.
Vydavateľské údaje: (1962)

Techniques for electron microscopy /
Vydavateľské údaje: (1965)

Electron microscopic investigation of the two-fase region in Mg3Cd / P. Pirttilä, K. Hanhi, P. Paalassalo, J. Mäki
Autor: Pirttilä, P., a ďalší
Vydavateľské údaje: (1974)

Metody analýzy a kontroly materiálů /
Autor: Fiedler, Rudolf
Vydavateľské údaje: (1986)

Microscopic techniques in biotechnology /
Autor: Hoppert, Michael
Vydavateľské údaje: (2003)

Diagnostika počítačov /
Vydavateľské údaje: (1983)

Wafer scale integration. Vol. III : Proceedings of the 3rd IFIP WG 10.5 workshop, Como, Italy, 6 - 8 June 1989 /
Autor: Treleaven, Philip
Vydavateľské údaje: (1990)

Integrované obvody a co s nimi /
Autor: Bém, Jaroslav
Vydavateľské údaje: (1990)

Instrumental surface analysis of geologic materials /
Autor: Perry, Dale L.
Vydavateľské údaje: (1990)

Electron microscopy and microanalysis of metals /
Vydavateľské údaje: (1968)

Barrier and interface properties of magnetic tunneling junctions studied via electrical transport /
Autor: Stein, Simon
Vydavateľské údaje: (2003)

Modern diffraction and imaging techniques in material science : proceedings of the International summer course on material science held at Antwerp, Belgium, 26 July - 8 August 1969 /
Vydavateľské údaje: (1970)

Transmisná elektrónová mikroskopia v parazitológii /
Autor: Bruňanská, Magdaléna
Vydavateľské údaje: (2014)

CAS 2002. Proceedings. Vol. 2 : Internat. semiconductor conf., Sinaia, Romania, Oct. 8 - 12, 2002 /
Autor: Udrea, Florin
Vydavateľské údaje: (2001)

Mikroelektronika. 1. časť /
Autor: Špány, Viktor
Vydavateľské údaje: (1991)

Elektronické a mikroelektronické prvky.
Autor: Csabay, Otto
Vydavateľské údaje: (1991)

Integrované obvody. Návody na cvičenia. 1. časť /
Autor: Orgoň, Miloš
Vydavateľské údaje: (1990)

Microscopy of semiconducting materials : programme and abstracts, SMM IX, Oxford, 20 - 23 March 1995 /
Autor: Ishida, Koichi
Vydavateľské údaje: (1995)

Particle strengthening of metals and alloys /
Autor: Nembach, Eckhard
Vydavateľské údaje: (1997)

The real structure of high-Tc superconductors /
Autor: Schekhtman, Veniamin Sh
Vydavateľské údaje: (1993)

Modeling nanoscale imaging in electron microscopy /
Vydavateľské údaje: (2012)

Technická měření ve slévárenství /
Autor: Čech, Jaroslav 1942-
Vydavateľské údaje: (1990)

Fyzikálna metalurgia a medzné stavy materiálov : Návody na cvičenia /
Autor: Hrivňáková, Dáša
Vydavateľské údaje: (1991)

Fyzika a technika rastu diamantových vrstiev. Texty prednášok : Seminár, 25. 11. 1998 /
Autor: Dúbravcová, Viera 1942-
Vydavateľské údaje: (1999)

Mikroelektronika. 2. časť /
Autor: Špány, Viktor
Vydavateľské údaje: (1991)

Materiálové inženýrství. Cvičení /
Autor: Macek, Karel 1934-
Vydavateľské údaje: (2003)

Experimentálne metódy štúdia materiálov.
Autor: Dománková, Mária, a ďalší
Vydavateľské údaje: (2007)

Analysis and design of integrated circuits /
Vydavateľské údaje: (1967)