QR kód

X-ray diffraction topography /

Uložené v:

Podrobná bibliografia
Hlavný autor:	Tanner, V. K. (Autor)
Médium:	Kniha
Jazyk:	Czech
Vydavateľské údaje:	Oxford : Pergamon Press, 1976
Edícia:	rz1
On-line prístup:
Tagy:	Pridať tag Žiadne tagy, Buďte prvý, kto otaguje tento záznam!

Podobné jednotky

X-ray diffraction by polymers /
Autor: Kakudo, Masao 1918-2005, a ďalší
Vydavateľské údaje: (1972)

X-RAY ENERGY DISPERSIVE DIFFRACTION /
Autor: Buras, Bronislaw
Vydavateľské údaje: (1988)

Multiple diffraction of X-rays in crystals /
Autor: Chang, Shih-Lin
Vydavateľské údaje: (1984)

X-ray diffraction by polycrystalline materials /
Autor: Guinebretiere, René
Vydavateľské údaje: (2007)

X-Ray Diffraction Imaging of Biological Cells
Autor: Nakasako, Masayoshi
Vydavateľské údaje: (2018)

AUTOMATION OF A GUINIER CAMERA FOR X-RAY DIFFRACTION /
Autor: Duijn, Jozef Henricus
Vydavateľské údaje: (1988)

X-ray diffraction procedures. For polycristalline and amorphous materials /
Autor: Klug, Harold P
Vydavateľské údaje: (1974)

Neutron and X-Ray diffraction from modulated structures /
Autor: Harris, Pernille
Vydavateľské údaje: (1994)

X-RAY DIFFRACTION. STUDY OF POLYCRYSTALLINE SILICON LAYERS /
Autor: Hendriks, Menso
Vydavateľské údaje: (1985)

X-ray diffraction procedures for polycrystalline and amorphous materials /
Autor: Klug, Harold P.
Vydavateľské údaje: (1954)

X-ray crystallography. An introduction to the investigation of crystals by their diffraction of monochromatic X-radiation /
Autor: Buerger, M. J.
Vydavateľské údaje: (1942)

Determination of austenite vs. Alfa-ferrite in steel by neutron and x-ray diffraction /
Autor: Als-Nielsen, J., a ďalší
Vydavateľské údaje: (1983)

X-ray diffraction studies of Kr, Xe and Pb inclusions in aluminium /
Autor: Grabaek, Lars
Vydavateľské údaje: (1990)

Anomalous coherent X-ray diffraction of isolated core-shell nanowires /
Autor: Haag, Sabine T.
Vydavateľské údaje: (2012)

THE PHASES OF PB/GE(111). A SURFACE X-RAY DIFFRACTION STUDY /
Autor: Grey, Francois
Vydavateľské údaje: (1988)

Surface structures, magnetic structures, and small inclusions, as studied by X-ray diffraction /
Autor: Bohr, Jakob
Vydavateľské údaje: (1991)

X-ray diffraction at elevated temperatures. A method for in situ process analysis /
Autor: Chung, Deborah D. L.
Vydavateľské údaje: (1993)

Basic Principles of Topography
Autor: Markoski, Blagoja
Vydavateľské údaje: (2018)

An X-ray diffraction study of the reconstructions induced by Sn and Pb on Ge(111) surfaces /
Autor: Pedersen, Jan Skov
Vydavateľské údaje: (1988)

Handbook of non- topographie photogrammetry /
Autor: Carbonnell, M.
Vydavateľské údaje: (1979)

Synchrotron X-ray diffraction studies of phase transitions in physisorbed monolayers of rare gases on graphite /
Autor: Bohr, Jakob
Vydavateľské údaje: (1984)

X-ray optics : applications to solids /
Autor: Authier, André
Vydavateľské údaje: (1977)

X-ray Nanochemistry Concepts and Development /
Autor: Guo, Ting
Vydavateľské údaje: (2018)

Advances in X - ray analysis.
Vydavateľské údaje: (1977)

An introduction to X-Ray crystallography /
Autor: Woolfson, M. M.
Vydavateľské údaje: (1970)

X-ray physics and equipment /
Autor: Jaundrell-Thompson, F., a ďalší
Vydavateľské údaje: (1970)

X-Ray spectrochemical analysis /
Autor: Birks, L. S.
Vydavateľské údaje: (1969)

X-Ray Lasers 2016 Proceedings of the 15th International Conference on X-Ray Lasers /
Vydavateľské údaje: (2018)

BED TOPOGRAPHY IN SHALLOW RIVER BENDS /
Autor: Oselen, Kim Nivm
Vydavateľské údaje: (1987)

DIFFRACTION STUDIES OF ORDERED PHASES AND PLASE TRANSITIONS. A SYNCHROTRON X-RAY SCATTERING STUDY OF MONOLAYERS OF CF4 ABSORBED ON GRAPHITE /
Autor: Kjaer, K.
Vydavateľské údaje: (1984)

X-ray microanalysis in the electron microscope /
Autor: Chandler, John A.
Vydavateľské údaje: (1977)

Structure determination by X - ray crystallography /
Autor: Ladd, F. C., a ďalší
Vydavateľské údaje: (1977)

OPTICAL SYSTEMS FOR SOFT X RAYS /
Autor: Michette, Alan G.
Vydavateľské údaje: (1986)

X-RAY SPECTRA AND CHEMICAL BINDING /
Autor: Meisel, Armin
Vydavateľské údaje: (1989)

Introduction to X-Ray spectrometric analysis /
Autor: Bertin, Eugene P.
Vydavateľské údaje: (1978)

Advances in X-ray tomography for geomaterials /
Autor: Desrues, Jacques, a ďalší
Vydavateľské údaje: (2006)

Small angle X-ray scattering /
Autor: Kratky, O.
Vydavateľské údaje: (1982)

Industrial X-Ray Computed Tomography
Vydavateľské údaje: (2018)

X-Ray Contrast Media OVERVIEW, USE AND PHARMACEUTICAL ASPECTS /
Autor: Speck, Ulrich
Vydavateľské údaje: (2018)

Balteau NDT X-Ray Solutions : products catalouge
Vydavateľské údaje: (2011)