Atomic force microscopy in process engineering : introduction to AFM for improved processes and products /

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Bibliographische Detailangaben
Hauptverfasser: Bowen, W. Richard (VerfasserIn), Hilal, Nidal (VerfasserIn)
Format: Buch
Sprache:Englisch
Veröffentlicht: Amsterdam : Elsevier, 2009
Ausgabe:1st ed.
Schlagworte:
ISBN:9781856175173
Online-Zugang: Volltext
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