Atomic force microscopy in process engineering : introduction to AFM for improved processes and products /

Uložené v:
Podrobná bibliografia
Hlavní autori: Bowen, W. Richard (Autor), Hilal, Nidal (Autor)
Médium: Kniha
Jazyk:English
Vydavateľské údaje: Amsterdam : Elsevier, 2009
Vydanie:1st ed.
Predmet:
ISBN:9781856175173
On-line prístup: Získať plný text
Tagy: Pridať tag
Žiadne tagy, Buďte prvý, kto otaguje tento záznam!

MARC

LEADER 00000nam a2200000 4500
003 SK-BrCVT
005 20220621172549.0
008 091203s2009 ne e ||||||eng d
020 |a 9781856175173 
035 |a CVTIDW1510698 
040 |b slo  |a CVTI SR  |e AACR2 
041 0 |a eng 
044 |a ne 
080 |a 537.533.35  |2 UDC-MRF 
100 1 |a Bowen, W. Richard  |4 aut 
245 1 0 |a Atomic force microscopy in process engineering :  |b introduction to AFM for improved processes and products /  |c Authors: W. Richard Bowen, Nidal Hilal ... [et al.] 
250 |a 1st ed. 
260 |a Amsterdam :  |b Elsevier,  |c 2009 
300 |a XVI, 283 s. :  |b fotogr., grafy, lit., obr., tab. ; 
653 1 |a elektrónová mikroskopia  |a povrchová sila  |a membránový proces  |a membránový povrch 
700 1 |a Hilal, Nidal  |4 aut 
910 |a BA002  |b A609402 
919 |a 978-1-85617-517-3 
974 |f Knihy 
992 |a AZN 
999 |c 196382  |d 196382