Bowen, W. R., & Hilal, N. (2009). Atomic force microscopy in process engineering: Introduction to AFM for improved processes and products. Elsevier.
Chicago-Zitierstil (17. Ausg.)Bowen, W. Richard, und Nidal Hilal. Atomic Force Microscopy in Process Engineering: Introduction to AFM for Improved Processes and Products. Amsterdam: Elsevier, 2009.
MLA-Zitierstil (9. Ausg.)Bowen, W. Richard, und Nidal Hilal. Atomic Force Microscopy in Process Engineering: Introduction to AFM for Improved Processes and Products. Elsevier, 2009.
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