11th IEEE international conference on advanced thermal processing of semiconductors - RTP 2003 : Charleston, Sept. 23 - 26, 2003 /

Uloženo v:
Podrobná bibliografie
Hlavní autor: Gelpey, Jeff
Médium: Kniha
Jazyk:angličtina
Vydáno: Piscataway : Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2003
Vydání:[1st ed.]
Témata:
elektrotechnika > kalibračná metóda > meranie > optické vlákno > silikónový materiál
ISBN:0780378741
On-line přístup: Získat plný text
Tagy: Přidat tag
Žádné tagy, Buďte první, kdo vytvoří štítek k tomuto záznamu!

MARC

LEADER 00000nam a2200000 4500
003 SK-BrCVT
005 20220617212044.0
008 031103s2003 xxu e ||||||eng d
020 |a 0780378741 
035 |a CVTIDW0970043 
040 |b slo  |a CVTI SR 
041 0 |a eng 
044 |a xxu 
080 |a 536:621.3.032  |2 UDC-MRF 
080 |a 536:621.382  |2 UDC-MRF 
100 1 |a Gelpey, Jeff 
242 1 0 |a 11. medzinárodná konferencia o zdokonalenej tepelnej úprave polovodičov - RTP 2003 
245 1 0 |a 11th IEEE international conference on advanced thermal processing of semiconductors - RTP 2003 :  |b Charleston, Sept. 23 - 26, 2003 /  |c Authors: Jeff Gelpey and Co. 
250 |a [1st ed.] 
260 |a Piscataway :  |b Institute of Electrical and Electronics Engineers,  |c 2003 
300 |a XI, 220 s. :  |b fotogr., grafy, lit., obr., tab. ; 
653 1 |a elektrotechnika  |a kalibračná metóda  |a meranie  |a optické vlákno  |a silikónový materiál 
910 |b A588712 
919 |a 0-7803-7874-1 
974 |f Knihy 
992 |a AZN 
999 |c 129686  |d 129686 

Podobné jednotky