RTL and high level testing. Digest of papers : WRTLT'03, Xi'an, China, Nov. 20 - 21, 2003 /
Uloženo v:
| Hlavní autor: | |
|---|---|
| Korporativní autor: | |
| Médium: | Konferenční příspěvek Kniha |
| Jazyk: | angličtina |
| Vydáno: |
Piscataway :
Institute of Electrical and Electronics Engineers,
2003
|
| Vydání: | [1st ed.] |
| Témata: | |
| On-line přístup: |
|
| Tagy: |
Přidat tag
Žádné tagy, Buďte první, kdo vytvoří štítek k tomuto záznamu!
|