International test conference. 2003 : Proceedings, Charlotte, NC, USA, Sept. 30 - Oct. 2, 2003 /

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Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: Portal, J. M.
Körperschaft: Proceedings NC, USA, Charlotte
Format: Tagungsbericht Buch
Sprache:Englisch
Veröffentlicht: Piscataway : Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2003
Ausgabe:[1st ed.]
Schlagworte:
nanometer > kvalita > diagnostika > mikroprocesor > softvér
ISBN:0780381068
ISSN:1089-3539
Online-Zugang: Volltext
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