International test conference. 2003 : Proceedings, Charlotte, NC, USA, Sept. 30 - Oct. 2, 2003 /

Uloženo v:
Podrobná bibliografie
Hlavní autor: Portal, J. M.
Korporativní autor: Proceedings NC, USA, Charlotte
Médium: Konferenční příspěvek Kniha
Jazyk:angličtina
Vydáno: Piscataway : Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2003
Vydání:[1st ed.]
Témata:
nanometer > kvalita > diagnostika > mikroprocesor > softvér
ISBN:0780381068
ISSN:1089-3539
On-line přístup: Získat plný text
Tagy: Přidat tag
Žádné tagy, Buďte první, kdo vytvoří štítek k tomuto záznamu!
Popis
Fyzický popis:XVI, 1334 s. : fotogr., grafy, lit., obr., tab. ;
ISBN:0780381068
ISSN:1089-3539

Podobné jednotky