Konfokale Mikroskopie zur Topografiebestimmung technischer Oberflächen /

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Bibliographic Details
Main Author: Wegner, Michael
Format: Thesis Book
Language:German
Published: Stuttgart : Universität, 2002
Edition:[1. Aufl.]
Series:Berichte aus dem Institut für Technische Optik Band 44
Subjects:
ISBN:3923560435
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