Yu, X. (2000). Untersuchungen zum Einfluss von mechanischem Stress auf die Migration in Metallisierungsstrukturen integrierter Schaltungen ([1. Aufl.].). Universität.
Chicago-Zitierstil (17. Ausg.)Yu, Xiaoying. Untersuchungen Zum Einfluss Von Mechanischem Stress Auf Die Migration in Metallisierungsstrukturen Integrierter Schaltungen. [1. Aufl.]. Hannover: Universität, 2000.
MLA-Zitierstil (9. Ausg.)Yu, Xiaoying. Untersuchungen Zum Einfluss Von Mechanischem Stress Auf Die Migration in Metallisierungsstrukturen Integrierter Schaltungen. [1. Aufl.]. Universität, 2000.
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