7th international symposium on the physical and failure analysis of integrated circuits : Proceedings, Singapore, 5 - 9 July 1999 /

Uloženo v:
Podrobná bibliografie
Hlavní autor: Chim, Wai Kin
Korporativní autor: Proceedings
Další autoři: Thong, John, Radhakrishnan, M. K. (Editor)
Médium: Konferenční příspěvek Kniha
Jazyk:angličtina
Vydáno: Piscataway : Institute of Electrical and Electronics Engineers, 1999
Vydání:[1st ed.]
Témata:
ISBN:0780351878
On-line přístup: Získat plný text
Tagy: Přidat tag
Žádné tagy, Buďte první, kdo vytvoří štítek k tomuto záznamu!

MARC

LEADER 00000nam a2200000 4500
003 SK-BrCVT
005 20220617204956.0
008 020903s1999 xxu e ||||||eng d
020 |a 0780351878 
035 |a CVTIDW0964915 
040 |b slo  |a CVTI SR 
041 0 |a eng 
044 |a xxu 
080 |a 621.3.049.77:53  |2 UDC-MRF 
100 1 |a Chim, Wai Kin 
111 0 |a Proceedings  |n (Singapore)  |f 5 - 9 July 1999 
242 1 0 |a 7. medzinárodné sympózium o fyzikálnej analýze a analýze chýb integrovaných obvodov 
245 1 0 |a 7th international symposium on the physical and failure analysis of integrated circuits :  |b Proceedings, Singapore, 5 - 9 July 1999 /  |c Authors: Wai Kin Chim, John Thong and Co. ; Red.: M. K. Radhakrishnan 
250 |a [1st ed.] 
260 |a Piscataway :  |b Institute of Electrical and Electronics Engineers,  |c 1999 
300 |a 209 s. :  |b fotogr., grafy, lit., obr., tab. ; 
653 1 |a mikroprocesor  |a oxidácia  |a pokovovanie  |a tranzistor 
692 |a GM OR JM MM 
700 1 |a Thong, John 
700 1 |a Radhakrishnan, M. K.  |4 edt 
910 |b A584003 
919 |a 0-7803-5187-8 
974 |f Knihy 
992 |a AZN 
999 |c 119991  |d 119991