QR kód

Analysis by total-reflection X-ray fluorescence spectrometry (TXRF) /

Uloženo v:

Podrobná bibliografie
Hlavní autor:	Prange, A.
Další autoři:	Schirmacher, M.
Médium:	Kniha
Jazyk:	angličtina
Vydáno:	Weinheim : Wiley-VCH, 1999
Vydání:	[1st ed.]
ISSN:	0344-9629
On-line přístup:
Tagy:	Přidat tag Žádné tagy, Buďte první, kdo vytvoří štítek k tomuto záznamu!

Podobné jednotky

Energy dispersive X-ray fluorescence analysis /
Autor: Dziunikowski, Bohdan
Vydáno: (1989)

Radionuclide X-ray fluorescence analysis with environmental applications /
Autor: Tölgyessy, Juraj 1931-
Vydáno: (1990)

DETERMINATION OF FISSION PRODUCTS IN IRRADIATED FIEL BY X-RAY FLUORESCENCE /
Autor: Mogensen, Mogens
Vydáno: (1986)

X-Ray spectrochemical analysis /
Autor: Birks, L. S.
Vydáno: (1969)

Advances in X - ray analysis.
Vydáno: (1977)

Applied gama-ray spectrometry /
Autor: Crouthamel, C. E.
Vydáno: (1970)

Introduction to X-Ray spectrometric analysis /
Autor: Bertin, Eugene P.
Vydáno: (1978)

Assay of powdered metallic ores by means of a portable X-ray fluorescence analyser /
Autor: Kunzendorf, H., a další
Vydáno: (1971)

The Gamma rays of the radionuclides. Tables for applied Gamma ray spectrometry /
Autor: Erdtmann, Gerhard
Vydáno: (1979)

Fluorescence analysis : a practical approach /
Autor: White, Charles E., a další
Vydáno: (1970)

X-ray reflectivity of a 200 layer W.25Si.75 multilayer crystal /
Autor: Als-Nielsen, J.
Vydáno: (1990)

X-ray Nanochemistry Concepts and Development /
Autor: Guo, Ting
Vydáno: (2018)

X-ray optics : applications to solids /
Autor: Authier, André
Vydáno: (1977)

An introduction to X-Ray crystallography /
Autor: Woolfson, M. M.
Vydáno: (1970)

X-ray physics and equipment /
Autor: Jaundrell-Thompson, F., a další
Vydáno: (1970)

X-ray diffraction by polymers /
Autor: Kakudo, Masao 1918-2005, a další
Vydáno: (1972)

X-ray diffraction topography /
Autor: Tanner, V. K.
Vydáno: (1976)

X-ray microanalysis in the electron microscope /
Autor: Chandler, John A.
Vydáno: (1977)

X-Ray Lasers 2016 Proceedings of the 15th International Conference on X-Ray Lasers /
Vydáno: (2018)

Structure determination by X - ray crystallography /
Autor: Ladd, F. C., a další
Vydáno: (1977)

OPTICAL SYSTEMS FOR SOFT X RAYS /
Autor: Michette, Alan G.
Vydáno: (1986)

X-RAY SPECTRA AND CHEMICAL BINDING /
Autor: Meisel, Armin
Vydáno: (1989)

X-RAY ENERGY DISPERSIVE DIFFRACTION /
Autor: Buras, Bronislaw
Vydáno: (1988)

Multiple diffraction of X-rays in crystals /
Autor: Chang, Shih-Lin
Vydáno: (1984)

Advances in X-ray tomography for geomaterials /
Autor: Desrues, Jacques, a další
Vydáno: (2006)

Small angle X-ray scattering /
Autor: Kratky, O.
Vydáno: (1982)

X-ray diffraction by polycrystalline materials /
Autor: Guinebretiere, René
Vydáno: (2007)

Industrial X-Ray Computed Tomography
Vydáno: (2018)

Fluorescent proteins /
Autor: Sullivan, Kevin F.
Vydáno: (2008)

Electron microscopy and X-ray applications to environmental and occupational health analysis /
Autor: Dzubay, Thomas G.
Vydáno: (1978)

X-Ray Contrast Media OVERVIEW, USE AND PHARMACEUTICAL ASPECTS /
Autor: Speck, Ulrich
Vydáno: (2018)

Balteau NDT X-Ray Solutions : products catalouge
Vydáno: (2011)

X-ray diffraction at elevated temperatures. A method for in situ process analysis /
Autor: Chung, Deborah D. L.
Vydáno: (1993)

SOLVING SURFACE STRUCTURES WITH X-RAY DIFRACTION /
Autor: Feidenhans'l, Robert
Vydáno: (1986)

Development of capillary optics for X-ray focusing /
Autor: Engström, Per
Vydáno: (1991)

Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis
Autor: Goldstein, Joseph I.
Vydáno: (2018)

X-Ray Diffraction Imaging of Biological Cells
Autor: Nakasako, Masayoshi
Vydáno: (2018)

A non-mathematical introduction to X-ray crystallography /
Autor: Taylor, C. A.
Vydáno: (1980)

Parametric X-ray radiation in crystals : theory, experiments and applications /
Autor: Baryshevsky, Vladimir G., a další
Vydáno: (2005)

Reviews in Fluorescence 2017
Vydáno: (2018)