9th international symposium on the physical and failure analysis of integrated circuits : Proceedings, Singapore, 8 - 12 July 2002

Uloženo v:
Podrobná bibliografie
Korporativní autor: Proceedings
Médium: Konferenční příspěvek Zvuková nahrávka
Vydáno: Piscataway : Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2002
Vydání:[1st ed.]
Témata:
ISBN:0780374177
On-line přístup: Získat plný text
Tagy: Přidat tag
Žádné tagy, Buďte první, kdo vytvoří štítek k tomuto záznamu!
Search Result 1

9th international symposium on the physical and failure analysis of integrated circuits : Proceedings, Singapore, 8 - 12 July 2002 / Autor Yue, John T.

ISBN: 0780374169
Vydáno: Piscataway : Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2002

Získat plný text
Konferenční příspěvek Kniha