Field reliability of electronic systems. An analytical study of in the field experience of electronics reliability /

Uloženo v:
Podrobná bibliografie
Hlavní autor: Elm, Tage
Médium: Kniha
Jazyk:angličtina
Vydáno: Roskilde : RISO National Laboratory, 1984
Edice:RISO-M-2418
On-line přístup: Získat plný text
Tagy: Přidat tag
Žádné tagy, Buďte první, kdo vytvoří štítek k tomuto záznamu!

MARC

LEADER 00000nam a2200000 4500
003 SK-BrCVT
005 20220617202423.0
008 991202s1984 dk e ||||||eng d
035 |a CVTIDW0951979 
040 |b slo  |a CVTI SR 
041 0 |a eng 
044 |a dk 
080 |a 621.38.004.64  |2 UDC-MRF 
100 1 |a Elm, Tage 
242 1 0 |a Spoľahlivosť polí elektronických systémov. Analytická štúdia elektronickej spoľahlivosti vo vnútri polí 
245 1 0 |a Field reliability of electronic systems. An analytical study of in the field experience of electronics reliability /  |c Tage Elm 
260 |a Roskilde :  |b RISO National Laboratory,  |c 1984 
300 |a 37 s. 
490 0 |a RISO-M-2418 
760 1 |t RISO-M-2418 
910 |b A435480 
974 |f Knihy 
992 |a AIM 
999 |c 112243  |d 112244