Metody analýzy povrchů. Elektronová mikroskopie a difrakce /

Uložené v:
Podrobná bibliografia
Hlavný autor: Delong, Armin
Ďalší autori: Eckertová, L. (Editor), Frank, L.
Médium: Kniha
Jazyk:Czech
Vydavateľské údaje: Praha : Academia, nakladatelství Československé akademie věd, 1996
Vydanie:1. vyd.
Predmet:
Fourierova transformácia > difrakcia > emisia elektrónov > rtg žiarenie
ISBN:8020003290
On-line prístup: Získať plný text
Tagy: Pridať tag
Žiadne tagy, Buďte prvý, kto otaguje tento záznam!

MARC

LEADER 00000nam a2200000 4500
003 SK-BrCVT
005 20220617200825.0
008 010603s1996 xr e ||||||cze d
020 |a 8020003290 
035 |a CVTIDW0958995 
040 |b slo  |a CVTI SR 
041 0 |a cze 
044 |a xr 
080 |a 621.385.833  |2 UDC-MRF 
080 |a 537.53  |2 UDC-MRF 
100 1 |a Delong, Armin 
245 1 0 |a Metody analýzy povrchů. Elektronová mikroskopie a difrakce /  |c Autoři: Armin Delong a kol. ; Red. L. Eckertová, L. Frank 
250 |a 1. vyd. 
260 |a Praha :  |b Academia, nakladatelství Československé akademie věd,  |c 1996 
300 |a 379 s., príl. :  |b fotogr., grafy, lit., obr., tab. ; 
653 1 |a Fourierova transformácia  |a difrakcia  |a emisia elektrónov  |a rtg žiarenie 
692 |a BA DP JM MM 
700 1 |a Eckertová, L.  |4 edt 
700 1 |a Frank, L. 
910 |b A578013 
919 |a 80-200-0329-0 
974 |f Knihy 
992 |a AMG 
999 |c 107849  |d 107849 

Podobné jednotky