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Defect and fault tolerance in VLSI systems : proceedings, Montréal, Québec, Canada, October 17 - 19, 1994 /

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Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser:	Shen, Y.-N (VerfasserIn)
Format:	Buch
Sprache:	Englisch
Veröffentlicht:	Los Alamitos : IEEE Computer Society Press, 1994
Ausgabe:	[1st ed.]
Schlagworte:	architektúra > zosilňovač > metóda rekonfigurácie > kódovanie > samoopravný kód zborníky
ISBN:	0818663073
ISSN:	1063-6722
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