Defect and fault tolerance in VLSI systems : proceedings, Montréal, Québec, Canada, October 17 - 19, 1994 /

Uložené v:
Podrobná bibliografia
Hlavný autor: Shen, Y.-N (Autor)
Médium: Kniha
Jazyk:English
Vydavateľské údaje: Los Alamitos : IEEE Computer Society Press, 1994
Vydanie:[1st ed.]
Predmet:
architektúra > zosilňovač > metóda rekonfigurácie > kódovanie > samoopravný kód
zborníky
ISBN:0818663073
ISSN:1063-6722
On-line prístup: Získať plný text
Tagy: Pridať tag
Žiadne tagy, Buďte prvý, kto otaguje tento záznam!
Popis
Fyzický popis:X, 299 s. : grafy, lit., obr., tab. ;
ISBN:0818663073
ISSN:1063-6722

Podobné jednotky