Design and applications of sub-kelvin tunnelling microscopy /
Uloženo v:
| Hlavní autor: | Davidsson, Per Anders |
|---|---|
| Médium: | Diplomová práce Kniha |
| Jazyk: | angličtina |
| Vydáno: |
Göteborg :
Chalmers Tekniska Högskola,
1994
|
| Vydání: | [1st ed.] |
| Témata: | |
| ISBN: | 9171970606 |
| On-line přístup: |
|
| Tagy: |
Přidat tag
Žádné tagy, Buďte první, kdo vytvoří štítek k tomuto záznamu!
|
Podobné jednotky
Načítá se…
Scanning probe microscopy. Design and applications /
Autor: Olin, Hakan
Vydáno: (1993)
Autor: Olin, Hakan
Vydáno: (1993)
Načítá se…
Quantum transport of electrons in nanostructured Silicon MOSFETs /
Autor: Graaf, Caroline de
Vydáno: (1992)
Autor: Graaf, Caroline de
Vydáno: (1992)
Načítá se…
Electron probe microanalysis /
Autor: Birks, L. S.
Vydáno: (1963)
Autor: Birks, L. S.
Vydáno: (1963)
Načítá se…
Modeling nanoscale imaging in electron microscopy /
Vydáno: (2012)
Vydáno: (2012)
Načítá se…
Nanoscale characterization of surfaces and interfaces /
Autor: Dinardo, N. John
Vydáno: (1994)
Autor: Dinardo, N. John
Vydáno: (1994)
Načítá se…
Manufacturing and characterization of GaAs/AlGaAs multiple quantumwell ridge waveguide lasers /
Autor: Wellen, J. S.
Vydáno: (1992)
Autor: Wellen, J. S.
Vydáno: (1992)
Načítá se…
Electron microscopy : 5. international congress for electron microscopy, held in Philadelphia, Pennsylvania, August 29. to September 5. 1962.
Vydáno: (1962)
Vydáno: (1962)
Načítá se…
Kapitoly z optiky pre technikov /
Autor: Dado, Milan, 1951-
Vydáno: (1998)
Autor: Dado, Milan, 1951-
Vydáno: (1998)
Načítá se…
Techniques for electron microscopy /
Vydáno: (1965)
Vydáno: (1965)
Načítá se…
Electron microscopy : 5. international congress for electron microscopy, held in Philadelphia, Pennsylvania, August 29. to September 5. 1962.
Vydáno: (1962)
Vydáno: (1962)
Načítá se…
Vizualizacija tonkich potokov nesžimajemoj židkosti /
Autor: Byčkov, Jurij Maksimovič
Vydáno: (1980)
Autor: Byčkov, Jurij Maksimovič
Vydáno: (1980)
Načítá se…
Tunneling phenomena in solids /
Vydáno: (1969)
Vydáno: (1969)
Načítá se…
Holografie. Teoretické a experimentální základy a její použití /
Autor: Miler, Miroslav
Vydáno: (1974)
Autor: Miler, Miroslav
Vydáno: (1974)
Načítá se…
Principles of holography /
Autor: Smith, Howard M.
Vydáno: (1969)
Autor: Smith, Howard M.
Vydáno: (1969)
Načítá se…
Golografija /
Autor: Françon, M.
Vydáno: (1972)
Autor: Françon, M.
Vydáno: (1972)
Načítá se…
Holografická interferometrie : Sborník referátů z 1. celostát. semináře o optickém záznamu a zpracování informace, 22. 2. 1972 /
Autor: Miler, Miroslav
Vydáno: (1972)
Autor: Miler, Miroslav
Vydáno: (1972)
Načítá se…
Electron microscopy and microanalysis of metals /
Vydáno: (1968)
Vydáno: (1968)
Načítá se…
Biepitaxie-Josephson-Kontakte und Höchstfrequenzleitungen aus YBa2Cu3O7-Gama /
Autor: Copetti, Carlo Alberto
Vydáno: (1995)
Autor: Copetti, Carlo Alberto
Vydáno: (1995)
Načítá se…
Verbesserung der mechanischen und hochfrequenten Eigenschaften von YBCO-Schichten mittels unterschiedlicher Defektarten /
Autor: Einfeld, Jan Christof
Vydáno: (2000)
Autor: Einfeld, Jan Christof
Vydáno: (2000)
Načítá se…
Transport- und Rauscheigenschaften supraleitender Quanteninterferometer aus YBa2Cu3O7-Delta /
Autor: Barthel, Knut
Vydáno: (2000)
Autor: Barthel, Knut
Vydáno: (2000)
Načítá se…
Kelvin Probe Force Microscopy From Single Charge Detection to Device Characterization /
Vydáno: (2018)
Vydáno: (2018)
Načítá se…
Measurement techniques for polymeric solids : Conf., Teddington, Middlesex, UK, Dec. 1982 /
Autor: Brown, R. P.
Vydáno: (1984)
Autor: Brown, R. P.
Vydáno: (1984)
Načítá se…
Numerical simulation of transition and early turbulence in a 3-D boundary layer perturbed by superposed stationary and traveling crossflow vortices /
Autor: Bonfigli, Giuseppe
Vydáno: (2006)
Autor: Bonfigli, Giuseppe
Vydáno: (2006)
Načítá se…
In-situ electron microscopy : applications in physics, chemistry and material science /
Vydáno: (2012)
Vydáno: (2012)
Načítá se…
Phased Array Ultrasonic Probe Catalog.
Vydáno: (2011)
Vydáno: (2011)
Načítá se…
Taster und Zubehör
Vydáno: (2009)
Vydáno: (2009)
Načítá se…
Grain boundary structure of YBa2Cu3O7-delta high Tc superconductors /
Autor: Alarco, José A.
Vydáno: (1994)
Autor: Alarco, José A.
Vydáno: (1994)
Načítá se…
Industrial RFID-Systeme BIS.
Vydáno: (2010)
Vydáno: (2010)
Načítá se…
Vision-Sensoren BVS.
Vydáno: (2010)
Vydáno: (2010)
Načítá se…
A World of Sensors : inteligentné riešenia v snímacej technike
Vydáno: (2010)
Vydáno: (2010)
Načítá se…
Digitale Verarbeitung und Auswertung von Interferenzbildern /
Autor: Osten, Wolfgang
Vydáno: (1991)
Autor: Osten, Wolfgang
Vydáno: (1991)
Načítá se…
Untersuchung der Transporteigenschaften von SNS-Josephson-Kontakten, hergestellt durch die lokale Implantation von Sauerstoff in YBa2Cu3O7-x /
Autor: Kahlmann, Frank
Vydáno: (1998)
Autor: Kahlmann, Frank
Vydáno: (1998)
Načítá se…
Proceedings of the international conference on organic superconductors /
Vydáno: (1970)
Vydáno: (1970)
Načítá se…
Critical currents in superconductors /
Autor: Campbell, A. M., a další
Vydáno: (1972)
Autor: Campbell, A. M., a další
Vydáno: (1972)
Načítá se…
Electronic and structural properties of interfaces and semiconductor nanostructures /
Autor: Eisebitt, Stefan
Vydáno: (1995)
Autor: Eisebitt, Stefan
Vydáno: (1995)
Načítá se…
Microscopy of semiconducting materials : programme and abstracts, SMM IX, Oxford, 20 - 23 March 1995 /
Autor: Ishida, Koichi
Vydáno: (1995)
Autor: Ishida, Koichi
Vydáno: (1995)
Načítá se…
Crystal growth of materials for energy production and energy-saving applications : "Abdus Salam" Internat. Centre for Theoretical Physics, Trieste, Italy, 5 - 10 March 2001 /
Autor: Fornari, Roberto
Vydáno: (2001)
Autor: Fornari, Roberto
Vydáno: (2001)
Načítá se…
Imaging technology /
Autor: Lee, Hua
Vydáno: (1986)
Autor: Lee, Hua
Vydáno: (1986)
Načítá se…
Nanoscale characterisation of ferroelectric materials. Scanning porobe microscopy approach /
Autor: Kalinin, Sergei V.
Vydáno: (2004)
Autor: Kalinin, Sergei V.
Vydáno: (2004)
Načítá se…
Plasma interaction of Io and Europa with the Jovian magnetosphere /
Autor: Saur, Joachim
Vydáno: (2000)
Autor: Saur, Joachim
Vydáno: (2000)
Podobné jednotky
-
Scanning probe microscopy. Design and applications /
Autor: Olin, Hakan
Vydáno: (1993) -
Quantum transport of electrons in nanostructured Silicon MOSFETs /
Autor: Graaf, Caroline de
Vydáno: (1992) -
Electron probe microanalysis /
Autor: Birks, L. S.
Vydáno: (1963) -
Modeling nanoscale imaging in electron microscopy /
Vydáno: (2012) -
Nanoscale characterization of surfaces and interfaces /
Autor: Dinardo, N. John
Vydáno: (1994)

