Speeding-up model-based fault injection of deep-submicron CMOS fault models through dynamic and partially reconfigurable FPGAS

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Bibliographische Detailangaben
Titel: Speeding-up model-based fault injection of deep-submicron CMOS fault models through dynamic and partially reconfigurable FPGAS
Weitere Verfasser: University/Department: Universitat Politècnica de València. Departamento de Informática de Sistemas y Computadores - Departament d'Informàtica de Sistemes i Computadors
Thesis Advisors: Gil Vicente, Pedro Joaquín, Ruiz García, Juan Carlos
Quelle: Riunet
Schlagwörter: Inyección de fallos, Field programmable gate arrays (fpgas), Validación de circuitos de muy alta escala de integración (vlsi), Reconfiguración en tiempo de ejecución, Validation of very-large-scale in, Run-time reconfiguration, Fault injection, ARQUITECTURA Y TECNOLOGIA DE COMPUTADORES, 330406 - Arquitectura de ordenadores, 330408 - Fiabilidad de los ordenadores, 3304 - Tecnología de los ordenadores
Publikationsart: Dissertation/Thesis
DOI: 10.4995/Thesis/10251/1943
Zugangs-URL: http://hdl.handle.net/10251/1943
Dokumentencode: edstdx.10251.1943
Datenbank: TDX
Beschreibung
DOI:10.4995/Thesis/10251/1943