Оrthogonal amplitude-phase method of measurement in design of extrusion defectoscopes on the basis of microcontrollers
Gespeichert in:
| Titel: | Оrthogonal amplitude-phase method of measurement in design of extrusion defectoscopes on the basis of microcontrollers |
|---|---|
| Quelle: | Вісник Національного технічного університету «ХПІ». Серія: Механіко-технологічні системи та комплекси; Том 44 (2017); 60-64 Вестник Национального технического университета «ХПИ». Серия: Механико-технологические системы и комплексы; Том 44 (2017); 60-64 |
| Verlagsinformationen: | Харківський національний технічний університет "Харківський політехнічний інститут", 2018. |
| Publikationsjahr: | 2018 |
| Schlagwörter: | вихретоковый дефектоскоп, ортогональный метод, синтезатор частоты, вихретоковый преобразователь, прямой синтез, микроконтроллер, DSP процессор, LabVIEW, аналого-цифровой преобразователь, фильтр нижних частот, УДК 620.179.14, eddy current defectoscope, orthogonal method, frequency synthesizer, eddy current converter, direct synthesis, microcontroller, DSP processor, analog-to-digital converter, low pass filter, вихрострумовий дефектоскоп, ортогональний метод, синтезатор частоти, вихрострумовий перетворювач, прямий синтез, мікроконтролер, DSP процесор, аналого-цифровий перетворювач, фільтр нижніх частот |
| Beschreibung: | В данной статье рассмотрены особенности использования ортогональных методов измерения параметров сигналов при проектировании вихретоковых дефектоскопов (ВД) на базе микроконтроллеров. Анализируется предложенная авторами новая структура дефектоскопа, которая имеет один измерительный канал, реализует ортогональный метод измерения, имеет очень малое энергопотребление, малые габариты и соответствующую стоимость. Проведенные экспериментальные исследования предложенной структуры ВД на специальном экспериментальном макете, где с помощью высокоточного синтезатора сигналов SDG102, фирмы SIGLENT, проведено имитацию возможных дефектов, которые могут приводить как к изменению фазы, так и амплитуды измерительного сигнала, что подтвердило высокие метрологические возможности этой структуры. In this article has been considered features of the useing orthogonal methods for measuring signal parameters during the design of eddy-current flaw detectors based on microcontrollers. The proposed new structure of the flaw detector have been analyzing. The structure has one measuring channel, implements an orthogonal measurement method, has very low energy consumption, small size and low cost. Experimental investigations the proposed structure of eddy-current flaw detectors have been done in a special experimental model, where using the high-precision signal synthesizer SDG102, firm SIGLENT, conducted simulation of possible defects that can lead to phase and amplitude changes of the measurement signal. That confirmed the high metrological capabilities of this structure. В даній статті розглянуті особливості використання ортогональних методів вимірювання параметрів сигналів при проектуванні вихрострумових дефектоскопів (ВД) на базі мікроконтролерів. Аналізується запропонована авторами нова структура дефектоскопа, яка має один вимірювальний канал, реалізує ортогональний метод вимірювання, має дуже мале енергоспоживання, малі габарити і відповідну вартість. Проведені експериментальні дослідження запропонованої структури ВД на спеціальному експериментальному макеті, де за допомогою високоточного синтезатора сигналів SDG102, фірми SIGLENT, проведено імітацією можливих дефектів які можуть призводити як до зміни фази так і амплітуди вимірювального сигналу, що підтвердило високі метрологічні можливості цієї структури. |
| Publikationsart: | Article |
| Dateibeschreibung: | application/pdf |
| Sprache: | Ukrainian |
| ISSN: | 2411-2798 2411-2828 |
| Zugangs-URL: | http://mtsc.khpi.edu.ua/article/view/124754 |
| Rights: | CC BY |
| Dokumentencode: | edsair.scientific.p..adef50416ebeeaf8e93b25b55a0ca82b |
| Datenbank: | OpenAIRE |
Nájsť tento článok vo Web of Science Schreiben Sie den ersten Kommentar!