Параметрический автодинный детектор для качественного анализа свойств полупроводниковых пленок

Saved in:
Bibliographic Details
Title: Параметрический автодинный детектор для качественного анализа свойств полупроводниковых пленок
Publisher Information: БГТУ, 2025.
Publication Year: 2025
Subject Terms: полупроводниковые пленки, спектральный анализ сигналов, ЯМР-сигналы, ЯМР-спектроскопия, анализ свойств полупроводниковых пленок, параметрический автодинный детектор
Description: В статье рассмотрен параметрический автодинный детектор для качественного анализа свойств полупроводниковых пленок.
Document Type: Article
File Description: application/pdf
Language: Russian
Access URL: https://elib.belstu.by/handle/123456789/71486
Accession Number: edsair.od......3992..5b8a779c702577d0dc0e8d65084d7ff9
Database: OpenAIRE
Description
Abstract:В статье рассмотрен параметрический автодинный детектор для качественного анализа свойств полупроводниковых пленок.