Formally Verifying Analog Neural Networks with Device Mismatch Variations

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Bibliographische Detailangaben
Titel: Formally Verifying Analog Neural Networks with Device Mismatch Variations
Autoren: Yasmine Abu-Haeyeh, Thomas Bartelsmeier, Tobias Ladner, Matthias Althoff, Lars Hedrich, Markus Olbrich
Quelle: 2025 Design, Automation & Test in Europe Conference (DATE). :1-7
Verlagsinformationen: IEEE, 2025.
Publikationsjahr: 2025
Schlagwörter: ddc:000, Informatik, Wissen, Systeme
Publikationsart: Article
Conference object
Dateibeschreibung: application/pdf
DOI: 10.23919/date64628.2025.10992891
Zugangs-URL: https://mediatum.ub.tum.de/1779191
Rights: STM Policy #29
Dokumentencode: edsair.doi.dedup.....e6f90b37832dbc971489ed2bf8dbd40b
Datenbank: OpenAIRE
Beschreibung
DOI:10.23919/date64628.2025.10992891