Bibliographische Detailangaben
| Titel: |
Сложно-функциональный блок для измерения температуры кристалла СБИС: Hard IP-Core for measuring the temperature of Crystal VLSI |
| Quelle: |
Труды НИИСИ РАН. 9:40-44 |
| Verlagsinformationen: |
Federal Scientific Center Scientific Research Institute for Systems Research of the Russian Academy of Sciences, 2019. |
| Publikationsjahr: |
2019 |
| Schlagwörter: |
analog-to-digital converter, надежность СБИС, измерение температуры, аналого-цифровой преобразователь, temperature measurement, VLSI reliability |
| Beschreibung: |
Представлен сложно-функциональный блок для измерения температуры микропроцессора с температурным датчиком на основе двух p-n переходов в прямом смещении, работающих при разных плотностях тока. Аналоговый сигнал с датчика температуры обрабатывается с помощью 10-разрядного АЦП и специализированного контроллера. Сложно-функциональный блок для измерения температуры кристалла реализован по технологии КМОП с проектными нормами 65 нм и предназначен для использования в условиях воздействия внешних факторов. Hard IP-Core for measuring the temperature of a microprocessor with a temperature sensor based on two p-n transitions in direct displacement operating at different current densities is presented. The analog signal from the temperature sensor is processed using a 10-bit ADC and a dedicated controller. Complex-functional unit for measuring the temperature of the crystal is implemented by CMOS technology with design standards of 65 nm and is designed for use under the influence of external factors. |
| Publikationsart: |
Article |
| Sprache: |
Russian |
| ISSN: |
2225-7349 |
| DOI: |
10.25682/niisi.2019.4.0005 |
| Dokumentencode: |
edsair.doi...........2e96f61390180df9b41cb886b9695d3c |
| Datenbank: |
OpenAIRE |
Nájsť tento článok vo Web of Science