Výsledky vyhľadávania - "Stenberg, L"

  1. 1
  2. 2
  3. 3
  4. 4
  5. 5
  6. 6
  7. 7
  8. 8
  9. 9
  10. 10
  11. 11
  12. 12

    Zdroj: Citakovic , J , Stenberg , L J & Andreani , P 2006 , 1/f Noise Characterization in CMOS Transistors in 0.13μm Technology . in 24th Norchip Conference, 2006. . IEEE , pp. 81-84 , 2006 IEEE 24th NORCHIP Conference , Linköping , Sweden , 20/11/2006 . https://doi.org/10.1109/NORCHP.2006.329249

    Popis súboru: application/pdf

  13. 13
  14. 14
  15. 15
  16. 16
  17. 17
  18. 18
  19. 19
  20. 20