Výsledky vyhledávání - "METAL oxide semiconductor field-effect transistor circuits"
-
1
Autoři: a další
Zdroj: International Journal of High Speed Electronics & Systems. Mar2026, Vol. 35 Issue 1, p1-8. 8p.
-
2
Autoři: a další
Zdroj: Sensors (14248220). Apr2025, Vol. 25 Issue 7, p2224. 20p.
-
3
Autoři: a další
Zdroj: Electronics Letters (Wiley-Blackwell). Nov2024, Vol. 60 Issue 21, p1-4. 4p.
-
4
Autoři:
Zdroj: International Journal of Electronics; Jul2025, Vol. 112 Issue 7, p1381-1395, 15p
-
5
Autoři: a další
Zdroj: International Journal of Aerospace Engineering. 6/12/2024, Vol. 2024, p1-13. 13p.
-
6
Autoři: a další
Zdroj: Microsystem Technologies. Mar2024, Vol. 30 Issue 3, p263-275. 13p.
-
7
Autoři: a další
Zdroj: Advanced Optical Materials. 2/2/2024, Vol. 12 Issue 4, p1-9. 9p.
-
8
Autoři: a další
Zdroj: Pertanika Journal of Science & Technology; Mar2025, Vol. 33 Issue 2, p639-651, 13p
-
9
Autoři: a další
Zdroj: Electronics (2079-9292); Feb2025, Vol. 14 Issue 4, p771, 17p
-
10
Autoři: a další
Zdroj: IEEE Transactions on Industrial Electronics. Sep2022, Vol. 69 Issue 9, p9462-9471. 10p.
-
11
Autoři:
Zdroj: Energies (19961073). Mar2023, Vol. 16 Issue 6, p2903. 18p.
-
12
Autoři:
Zdroj: IET Power Electronics (Wiley-Blackwell); 11/4/2024, Vol. 17 Issue 14, p1867-1881, 15p
-
13
Autoři: a další
Zdroj: Micro & Nano Letters (Wiley-Blackwell); Nov2024, Vol. 19 Issue 6, p1-15, 15p
-
14
Autoři:
Zdroj: International Journal of Electrical & Computer Engineering (2088-8708); Oct2024, Vol. 14 Issue 5, p4977-4986, 10p
Témata: METAL oxide semiconductor field-effect transistors, METAL oxide semiconductors, PARALLEL resonant circuits, METAL oxide semiconductor field-effect transistor circuits, RADIO frequency
Korporace: KONINKLIJKE Philips NV
-
15
Autoři: a další
Zdroj: Microsystem Technologies. Dec2022, Vol. 28 Issue 12, p2807-2820. 14p.
-
16
Autoři:
Zdroj: Sensors (14248220). Dec2022, Vol. 22 Issue 23, p9466. 20p.
-
17
Autoři: a další
Zdroj: IEEE Transactions on Nuclear Science. Oct2021, Vol. 68 Issue 10, p2516-2523. 8p.
-
18
Autoři: a další
Zdroj: IEEE Transactions on Nuclear Science. Jul2021, Vol. 68 Issue 7, p1423-1429. 7p.
-
19
Autoři: a další
Zdroj: Microelectronics Reliability. May2025, Vol. 168, pN.PAG-N.PAG. 1p.
-
20
Autoři: a další
Zdroj: Journal of Power Electronics. Feb2022, Vol. 22 Issue 2, p187-197. 11p.
Nájsť tento článok vo Web of Science
Full Text Finder